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本文標(biāo)題:試樣斷口如何形成簡(jiǎn)單分析斷口顯微鏡研究分析結(jié)構(gòu)（之二）

信息分類(lèi):信息交流　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-11-4 10:02:21

試樣斷口如何形成簡(jiǎn)單分析斷口顯微鏡研究分析結(jié)構(gòu)（之二）

如果說(shuō)利用電子顯微鏡對(duì)斷口進(jìn)行分析的話(huà)，那么其

研究組織精細(xì)方面的特征結(jié)構(gòu)就被稱(chēng)為是顯微斷口分析，

這樣的技術(shù)是主要針對(duì)的是斷口的分析，特別是金屬

材料方面研究比較多，如斷開(kāi)的機(jī)理、表面組織，以及其

工藝方面的制作，只要出現(xiàn)破損的現(xiàn)象，都可以

用這樣的方法進(jìn)行分析的，

顯微斷口分析的技術(shù)借助的是掃描式電子顯微鏡的功

能，依靠的是一次電子光束，如果研究的斷口是表面結(jié)構(gòu)

，而且是連續(xù)移動(dòng)的情況，那么需要通過(guò)發(fā)射光進(jìn)行觀

測(cè)，這樣的成像形成利用就是二次電子流，

一般情況下，掃描電子顯微鏡的分辨率是有標(biāo)準(zhǔn)的，

通常是在15-20納米，這樣的分辨率是沒(méi)有透射電鏡高的。

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