本文標(biāo)題:掌握掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測中需要注意的幾點(diǎn)要求(之二)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時(shí)間:2015-10-31 10:15:55
掌握掃描電子
顯微鏡進(jìn)行檢測中需要注意的幾點(diǎn)要求(之二)
④觀測試樣的范圍,對于微區(qū)的電場,及磁場的分布都
是可以的,還有熒光情況下的陰極,如果是半導(dǎo)體的,那
么就可以觀測到氧化膜保護(hù)下的試樣,
保護(hù)膜下的半導(dǎo)體也是可以觀測到的,還有其升溫和減
溫的過程,以及其試樣是否進(jìn)行過拉伸等動(dòng)態(tài)的情況,
⑤如果需要對微區(qū)進(jìn)行分析的話,那么是可以結(jié)合電子
探針顯微鏡進(jìn)行詳細(xì)的分析,
⑥配置上電子通道的話,還可以對其附件和電子衍射的
附件一同對結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,
⑦ 其使用的電子束流不大,這樣不會(huì)對試樣造成損傷,
還能夠?qū)ι镌嚇雍突瘜W(xué)纖維試樣進(jìn)行直接的觀測。
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