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本文標(biāo)題:偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測(cè)

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源:未知 發(fā)布時(shí)間:2015-10-5 13:38:45

偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測(cè)

對(duì)于偏光顯微鏡來(lái)說(shuō),它主要是由機(jī)械部件與光學(xué)部件
以及照明系統(tǒng)組合而成的。

因此我們可以說(shuō)前透鏡愈小則顯微觀察時(shí)鏡頭就愈長(zhǎng),
同時(shí)顯微觀察時(shí)的放大倍數(shù)就愈大。

對(duì)于晶體物質(zhì)表面上的解理與解理角,則是一種地晶體
表面上沿著一定方向裂開(kāi)而形成的光滑的平面的性質(zhì)稱
為解理。

因此對(duì)于七色光波吸收的不同程度就會(huì)出現(xiàn)不同的顏色
,這樣在透射后出現(xiàn)晶體顏色仍然是白光,只是光的強(qiáng)
度有所變化,而對(duì)于這種情況下人們稱為無(wú)色晶體。

而對(duì)于晶體中心一條比較亮的細(xì)線就是貝克線,當(dāng)貝克
線發(fā)生則是由于相鄰兩個(gè)物質(zhì)折射率的不同在通過(guò)表面
時(shí)發(fā)生折射反射后引起的貝克線的規(guī)律。

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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司,本文地址:http://m.broadwishfurniture.com/xinwen/1865.html  
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  1. 沒(méi)有資料