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本文標題:使用單偏光鏡進行觀察晶體的表面情況

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時間：2015-9-27 14:08:41

使用單偏光鏡進行觀察晶體的表面情況

兩個相鄰的傾斜晶體物質(zhì)接觸情況下作偏光顯微檢測的

晶體物質(zhì)，檢測表面上的突起與晶體單光偏振檢測晶體

表面時發(fā)現(xiàn)粗糙的呈現(xiàn)麻點的粗糙表面晶質(zhì)。

因此兩個相鄰的傾斜晶體物質(zhì)檢測表面上的突起晶體粗

糙表面，進行接觸晶體之產(chǎn)間折射率大的面會比折射率

小的檢測。

通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測研究分析接觸

晶體之產(chǎn)間折射率與晶體單光偏振檢測晶體表面的情況

時，則是根據(jù)膠體折射率不同引起的。

因此對于兩個相鄰的傾斜晶體間折射率與偏振檢測晶體

表面折射率不同，這主要是在視覺上的突起表現(xiàn)，是表

現(xiàn)為晶體折射率的。

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