本文標(biāo)題:顯微觀察時(shí)對垂直一個(gè)光軸切片的干涉圖的檢測
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-9-23 11:27:48
顯微觀察時(shí)對垂直一個(gè)光軸切片的干涉圖的檢測
通常情況下我們通過所使用的檢測垂直一個(gè)光軸切片的
二軸晶體物質(zhì)的干涉圖與斜交光軸切片與平行光軸面切
片的二軸晶體物質(zhì)的干涉圖。
而對于斜交光軸切片二軸晶體物質(zhì)的干涉圖則是一種比
較最常見到的檢測晶體物質(zhì)垂直于光軸切片的現(xiàn)象。
同時(shí)對于二軸平行光軸面切片的圖像或是與一軸平行光
軸的切片則是一個(gè)相交的干涉圖像，這樣可以直接分辨
出視域區(qū)域。
而對于垂直一個(gè)光軸切片的物像成像則是一個(gè)相當(dāng)于垂
直于切片一半的干涉圖，它是與偏光顯微鏡中的上或是
下偏振動(dòng)方向是平行的才行。
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