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本文標(biāo)題:光學(xué)顯微鏡在金相試樣中的檢測(cè)

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-5-13 16:27:30

光學(xué)顯微鏡在金相試樣中的檢測(cè)

光學(xué)顯微鏡是金相試驗(yàn)中的最重要的也是最基本

的測(cè)試儀器

雖然現(xiàn)在已經(jīng)有不少電子金相設(shè)備如透射電子顯

微鏡和掃描電子顯微鏡。

它們彌補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡在分辨率和景深兩個(gè)方面

的不足，但是光學(xué)顯微鏡也具備電子顯微鏡所沒

有的優(yōu)點(diǎn)。

光學(xué)顯微技術(shù)和電子顯微技術(shù)是互為補(bǔ)充的，而

且光學(xué)顯微鏡仍然是金相試驗(yàn)中的最基本的測(cè)試

儀器。

光和波動(dòng)性和雙重性質(zhì)在解釋透鏡的像差時(shí)把光

看作是粒子流就很合適基礎(chǔ)。